SN74BCT8374ADWRE4
- Herstellerteilnummer:
- SN74BCT8374ADWRE4
- Hersteller/Marke:
- Texas Instruments
- Teilbeschreibung:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- Datenblätter:
- RoHS-Status:
-
Bleifrei/RoHS-konform
- Lagerbestand:
- 8,500
- Versand von:
- Hongkong
- Versandmethode:
- DHL/FedEx/TNT/UPS/EMS
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- Hersteller :
- Texas Instruments
- Produktkategorie :
- Speziallogik
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Package / Case :
- 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Product Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-SOIC
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
Schritt 1: Vakuumverpackung
Schritt 2: Antistatische Verpackung
Schritt 3: Verpackungskarton
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